3시간 걸리던 반도체 품질 검사, 이제 16분만에 - 넥센서 기술이전 완료
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22-07-21 14:58
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표준硏, 반도체 부품 표면 결함 정밀검사 장비 개발
"넥센서 기술이전 완료·시제품 제작… 즉시 투입 가능 수준"
지난 2020년 이 기술은 2018년 도입된 기존 기술보다 한번에 100배 넓은 면적을 관찰할 수 있다.
실제 검사 속도를 비교했더니, 가로·세로 1mm 크기의 반도체 표면 이미지를 16분만에 검사해냈다. 원래 3시간 걸리던 작업이었다.
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