nXV-1은 간섭 방식을 이용해 정밀한 변위 및 두께를 측정합니다.
인라인 형태로 실시간 측정이 가능하고, 측정 프로브가 로봇에 장착되어
이동하면서 동시에 측정하며 다양한 측정에 활용이 가능 하도록 개선되었습니다.
박막분리가 가능해 표면에 다양한 코팅면이 존재하더라도 정확히 표면을 분리,
신뢰성 높은 측정값과 데 이터를 제공해드립니다.
필름이나 글라스 같이 투명한 제품은 물론 다양한 파장의 광원을 사용함으로써
실리콘, 사파이어 웨이퍼 같이 불투명 하거나 거칠 기가 심한 제품에 대한
두께 측정이 가능합니다. 이차전지의 실링두께, PCB 컨포멀코팅 두께 등 기존에
두께 측정이 어려웠던 제품 에도 적용이 가능합니다.